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    化工儀器網>產品展廳>測量/計量儀器>表面測量儀器>臺階儀>DektakXT 臺階儀

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    DektakXT 臺階儀

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    鉑悅儀器自2004年成立以來,憑借與世界各大儀器品牌的戰略合作關系,以及不斷優化公司自身經營管理,提高服務質量,成為中國國內的儀器供應商。鉑悅儀器所提供的產品均屬于高科技行業,產品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產設備,以及配套的耗材和配件,這些產品廣泛應用于工業、環境、食品、生物、地質、半導體、太陽能、醫藥、醫療器械、藝術考古、刑偵等各個領域并服務于各大院校、研究所、檢測機構、及政府部門等。

    鉑悅儀器不僅擁有高品質的產品,更培養了專業的銷售、應用支持和售后服務團隊。本著客戶至上的原則,從客戶的實際需求出發,鉑悅儀器為客戶提供儀器銷售,安裝培訓,應用支持,代檢測服務及儀器短期租賃服務等綜合解決方案,并提供持續而良好的售后服務,由此也獲得了廣大客戶的信任與認可。

    企業文化Corporate Culture: CREDIT

    C- Confidence: 自信

    R- Responsibility: 責任心

    E- Efficiency: 效率

    D- Diligence: 勤奮

    I- Intelligence: 機智

    T- Trust: 信任

    鉑悅儀器持續為您提供:儀器銷售,安裝培訓,應用支持,代檢測服務及儀器短期租賃服務。

    行業涵蓋:

    工業、環境、食品、生物、地質、半導體、太陽能、醫藥、醫療器械、藝術考古、刑偵

    應用范圍:

    材料成份分析(定性/定量)
    大面積材料元素分布
    材料表面/形貌分析
    3D掃描--快速3D成像
    CT--3D內部結構分析
    太陽能IV檢測

    產品:

    -- 直讀光譜儀
    -- 手持式XRF分析儀 S1 TITAN
    -- 科研級手持式XRF分析儀TRACER
    -- 便攜式熒光光譜儀 ELIO
    -- 便攜臺式XRF分析儀 CTX
    -- 微區X射線熒光光譜儀-元素掃描M4 TORNADO
    -- 巖芯分析儀
    -- 臺階儀、光學輪廓儀、原子力顯微鏡AFM
    -- 臺式X射線熒光測厚儀
    -- X射線透射系統/3D斷層掃描系統 (CT )
    -- 3D掃描儀
    -- 便攜式IV曲線檢測儀

     

     

     

     

     

    巖芯分析儀,微區X射線熒光光譜儀,直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺階儀,光學輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀,藝術與考古分析儀

    產地類別 進口 價格區間 面議
    應用領域 綜合 探針尖半徑 ?50nm~25um
    臺階高度重復性 測量重復性可以到5? 1??測量樣品最大尺寸? 50mm

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    德國布魯克DektakXT臺階儀探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以到5?。臺階儀這項性能的到了過去四十年Dektak技術,更加鞏固了其行業。不論應用于研發還是產品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強大,操作更簡易,檢測過程和數據采集更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應用于微電子器件,半導體,電池,高亮度發光二管的研發以及材料科學領域。

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       臺階儀DektakXT能實現:

       1、 使用溫度條件:10-30℃;

       2、很好的性能,臺階高度重現性低于4埃

       3、Single-arch設計提供掃描穩定性

       4、的“智能電子器件”設立了新低噪音基準

       5、新硬件配置使數據采集時間縮短

       6、64-bit,Vision64同步數據處理軟件,使數據分析速度高了10倍

       7、頻率,操作簡易

       8、直觀的Vision64用戶界面,操作簡易

       9、針尖自動校準系統

       10、布魯克(Bruker)以實惠的配置實現高的性能

       11、單傳感器設計,提供單一平面上低作用和寬掃描范圍

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          建立在40多年的探針輪廓技術的知識和經驗薄膜測試儀,在基于微處理器的輪廓儀,和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是single-arch設計的探針輪廓儀,內置真彩高清光學攝像機,及安裝64-bit并行處理架構已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀

    當需要臺階高度、表面粗糙度、測量時,人們就會借助Dektak。引進DektakXT,Bruker能讓您進一步獲得表面測量



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    數據采集和分析速度
      直接驅動掃描平臺,Dektak XT減少了掃描間的時間,而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長程掃描(就探針輪廓儀而言,通常是耗時的)的掃描速度。在行業的質量和重現性前提下,DektakXT可以將數據采集處理的速度。另外,DektakXT采用Bruker64-bit數據采集分析同步操作軟件Vision64,它可以大范圍3D形貌圖的高數據量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數據分析。Vision64還具有行業內的直觀用戶界面,簡化了實驗操作設置,自動完成多掃描模式,讓重復和常規的實驗操作變得更快速簡潔。

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